EBSD-analyser
Sammendrag:
- Deteksjon av alle typer korngrenser.
- Presentere bilder som viser kornene og deres morfologi og orienteringer
- Presentere bilder som viser fasene og deres fordeling
- Vise prefererte krystallografiske orienteringer, teksturer (polfigurer)
- Kan anvendes til studier av f.eks. kimdanning, rekrystallisasjon, deformasjon og bruddforplantning.
Detaljer:
EBSD (Electron Backscatter Diffraction) er en analysemetode hvor det genereres et diffraksjonsmønster fra hvert punkt på prøveoverflaten som treffes av elektronstrålen. Ved å analysere disse mønstrene kan bl.a. krystallografisk orientering og fasen bestemmes lokalt med romlig oppløsning på sub μm. EBSD benyttes til materialkarakterisering av krystallinske prøver. For eksempel metaller, legeringer, silisium, keramer, mineraler, asbestfiber kan karakteriseres vha EBSD. Orienteringskart og fasekart viser henholdsvis kornene med morfologi og fargen angir orienteringen mens fasekart viser fasene med morfologi og fraksjoner. Herav kan kornstørrelse- og fasefordeling beregnes. Prefererte orienteringer, teksturer beskrives f.eks. med polfigurer. Spesielle korngrenser (som f.eks. Sigma 3 korngrenser) kan visualiseres i kornkontrastbilder. Kvaliteten på diffraksjonsmønstrene kan anvendes til å framstille kart som viser deformasjoner inne i kornene. Eksempler på EBSD-studier: forbedring av styrken og duktiliteten til lette billegeringer, forstå utmattingsoppførselen til titanlegeringer, øke effektiviteten til solceller, sigemotstand i kjernefysisk reaktormaterialer.