SEM-analyser
Sammendrag:
- Analyse og karakterisering av overflatebelegg
- Skadeanalyser - fraktografi
- Analyser av geologiske borekjerner
- Analyse og identifisering av overflate- og luftbåren forurensning
- Pulvermorfologi, partikkelstørrelse og analyse
- Fase- og partikkel analyse
Detaljer:
Scanning Elektron Mikroskop (SEM) er meget godt egnet til en rekke typer analyser. På grunn av meget god bildeoppløsning og eksepsjonell dybdeskarphet brukes SEM ofte i forbindelse med brudd- og skadeundersøkelser. Oppløsningsevnen medfører at SEM også er godt egnet til karakterisering av små støv- og forurensningspartikler. Grunnleggende informasjon om opprinnelse og dannelse av partikler kan ofte hentes fra størrelsen, formen og/eller overflateformen til de enkelte partiklene. Denne typen informasjon kan oppnås ved å undersøke partiklene i SEM. Informasjon om sammensetningen av individuelle partikler/faser kan fås fra både det tilbakespredte elektronsignalet, og fra analysen av røntgenstråler som sendes ut av partiklene/fasene. Det tilbakespredte elektronsignalet gir data om gjennomsnittlige atomnummerforskjeller i og mellom partikler/faser. Røntgendata gir detaljer om grunnstoffsammensetningen til partiklene. Informasjonen som bæres av hvert signal er komplementær.